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搜索:ilsi石英晶振
- [進(jìn)口晶振解決方案]ILSIMMD振蕩器的可靠性計(jì)算2018年11月28日 11:02
- 半導(dǎo)體元件產(chǎn)品在如今的市場上蒸蒸日上,即使選擇了較高的可靠性元器件還是避免不了發(fā)生故障的可能性,為了產(chǎn)品的整個(gè)壽命周期得到完善的運(yùn)行,工作之前的準(zhǔn)備工作還是得做足,衡量石英晶振元件可靠性的關(guān)鍵指標(biāo)是平均故障間隔時(shí)間或MTBF,MTBF越高,設(shè)備的預(yù)期壽命越長,因此設(shè)備越可靠,本文中介紹了ILSI MMDMEMS振蕩器的測試工作過程和預(yù)測MTBF的計(jì)算方式.
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標(biāo)簽:振蕩器|ILSI晶振|有源晶振